Режимы сканирования АСМ

Исторически первым и широко используемым режимом работы атомно-силового микроскопа был контактный режим. При этом кантилевер скользит по поверхности образца под механическим контактом. Отталкивающее действие между зондом и поверхностью образца.
В режиме контакта, движение заграждения записано вдоль нормального образца. Смещение кантилевера следует за топографией образца. Изгибное смещение кантилевера, вызванное взаимодействием сил вдоль плоскости образца, другими словами-трением, дает информацию о фрикционных характеристиках поверхности-коэффициент трения пространственной карты.
Для получения достоверной информации о рельефных свойствах поверхности исследуемого образца необходимо поддерживать минимальную силу взаимодействия между зондом и образцом. Это гарантирует самый низкий уровень искажения, вносимый за счет деформации поверхности и зонда, неизбежной под механически действием.
Сила взаимодействия между зондом и образцом постоянна во время развертки, что очень удобно

. Достичь этого можно следующим образом: во время сканирования, образец расположен вертикально, его перемещают, приближая или удаляя от кантилевера, так, чтобы свой изгиб он сдерживал постоянно. Во время измерения сила взаимодействия между зондом и образцом остается постоянной, и этот метод называется контактным режимом постоянной силы. В реальном микроскопе можно поддерживать постоянную силу с некоторыми ошибками. Степень их можно контролировать с помощью системы обратной связи. Подобные системы используются во многих устройствах с автоматическим управлением. Например, ракеты летят к цели, отслеживая контуры поверхности. Для этого используются дальномер и система обратной связи. Системы обратной связи ракет и атомно-силовой микроскопии имеют много общего и часто используют аналогичные алгоритмы и элементы электронных схем. Используется пропорциональная интегральная схема для построения обратной связи