Прибор подвергается испытанию следующим образом

Пусть событие A – прибор остается исправным в одном испытании. P(A) = 0.98.
Пусть событие B – прибор выходит из строя в одном испытании. P(B) = 0.02.
События A и B составляют полную группу событий в одном испытании.
P(A)+P(B)=1.
Прибор будет заменен после третьего теста в том случае, если во время третьего теста он окажется неисправным, причем в первых двух тестах он один раз уже оказывался неисправным . Это означает, что благоприятным для нас будет событие ABB (A в первом испытании, B – во втором, B – в третьем) или BAB (B – в первом, A - во втором, B – в третьем)