При массовом производстве элементов электроники вероятность появления брака равна 0

Если проводится n независимых испытаний, в каждом из которых событие происходит с вероятностью p, то вероятность того, что событие настанет ровно k раз (при малом p и достаточно большом n) находят по асимптотической формуле Пуассона:
, .  
В данном случае среднее число бракованных изделий